光電可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備廠家地址
更新時(shí)間：2025-10-02
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備用于適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
光電可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備廠家地址 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備適用范圍 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備型號(hào)與參數(shù) 型號(hào) ㎜ 工作尺寸 外型尺寸 TS－100 450×450×500 1150×900×1650. TS－225 500×600×750 1200×1100×1900 TS－500 700×800×900 1350×1280×2200 TS－800 800×1000×1000 1450×1480×2300 TS－1000 1000×1000×1000 1650×1480×2300 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備技術(shù)指標(biāo): 1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃ 2 、濕度范圍：30%～98%RH 3 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ 4 、溫度偏差：≤2℃ 5 、濕度偏差：+2-3 %RH 6 、升降溫速率：0.7～1℃/min 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備結(jié)構(gòu)特征: 本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計(jì)、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國(guó)進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡(jiǎn)單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗(yàn)。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTSC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時(shí)功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動(dòng)控制。
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)而制造的: GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法 GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法 GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 以上是關(guān)于艾思荔可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的相關(guān)參數(shù)，如需了解更多關(guān)于可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息，請(qǐng)！ : : 張 傳真: : :asLi898 ?。?/span>www.zjpct.com 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備 PCT老化試驗(yàn)機(jī)☆☆雙八五（85）濕冷凍試驗(yàn)箱☆☆高低溫濕熱交變☆UV紫外線老化試驗(yàn)機(jī) 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 http://www.ybzhan.cn/st34196/product_6871671.html |
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